Alle producten
-
Ultrasone foutdetector
-
ultrasone diktemaat
-
De Maat van de deklaagdikte
-
draagbaar hardheidsmeetapparaat
-
x-ray gebrekdetector
-
Röntgenpijpleiders
-
Vakantie detector
-
het magnetische deeltje testen
-
Eddy Current Testing Equipment
-
Penetranttesten
-
Durometer van de kust
-
brinell hardheidsmeetapparaat
-
Rockwell-hardheidsmeetapparaat
-
De micro- Hardheidsmeetapparaat van Vickers
-
Materiële hardheidstester
-
trillingsmeter
-
Test van de oppervlaktrauwheid
-
Profielprojector
-
Glancemeters
-
concrete testhamer
-
Laser-infraroodthermometer
-
BobType 1018 het BlokKoolstofstaal Mini Iiw 2 van Astme114-15 Duim van de Kaliberbepalingstest -
WillemType 1018 het BlokKoolstofstaal Mini Iiw 2 van Astme114-15 Duim van de Kaliberbepalingstest
-
TomType 1018 het BlokKoolstofstaal Mini Iiw 2 van Astme114-15 Duim van de Kaliberbepalingstest
-
LeeuwType 1018 het BlokKoolstofstaal Mini Iiw 2 van Astme114-15 Duim van de Kaliberbepalingstest
zoekwoorden [ optical crystal semiconductor x ray instrument ] Overeenkomst 1 producten.
VIDEO
Sapphire Piezoelectric Crystal Optical Crystal Semiconductor X Ray Crystal Orientation Indicator Instrument
| Invoervermogen: | Eenfasige AC220V、50HZ、0.5 kW |
|---|---|
| Merken: | Huatec |
| Röntgenbuis: | Koperdoel met anodegewanden, luchtkoeling |
1